德州仪器将携DLP先进应用及解决方案亮相2014光博会

    德州仪器（TI）（NASDAQ: TXN）将携其创新产品及应用亮相于2014年9月2 –5日在深圳举行的第16届中国国际光电博览会（CIOE 2014）。与会者可前往深圳会展中心1号馆 1C01号德州仪器DLP展位，亲身体验DLP NIRscan™评估模块（EVM）、DLP LightCrafter™ 4500评估模块等开发的高性能、高精准且经济的工业、医疗应用。

    届时，来自DLP的专家也将在同期举行的中国国际集成电路研讨会暨展览会（IIC-China）上发言，与业界同行分享更多精辟见解。