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2 可靠性预计方法
可靠性预计的方法较多,本文采用的元器件计数法是在初步设计阶段使用的预计方法[1]。在这个阶段中,每种通用元件的数量已经基本确定,在以后的研制和生产阶段整个设计的复杂度预期不会有明显的变化。元器件计数法假定元件的寿命是指数分布的(即元器件失效率恒定)。
元器件计数法中产品失效率的一般表达式是:
对一定的环境来说,式中:λ产品为产品总失效率,λi为第i类元件的通用失效率,πGi为第i类元件的质量系数,Ni为第i类元件的数量,N为不同的元件种类数。